IEC标准【InternationalElectrotechnicalCommission(国际电工委员会)】 |
68号出版物：基本环境试验法 |
147-5号出版物：半导体器件的机械及耐气候性试验方法 |
MIL标准【Military Standard(美国军用标准)】 |
MIL-STD-202：电子、电器元器件试验方法 |
MIL-STD-750：分立半导体器件试验方法 |
MIL-STD-833：微电子器件试验方法 |
BS标准【British Standard(英国标准)】 |
BS-9300：半导体器件的试验方法 |
BS-9400：IC的试验方法 |
JIS标准[Japanese Industral Standard(日本工业标准)] |
JIS C 7021:分立半导体器件的环境试验方法和疲劳试验方法 |
JIS C 7022:半导体集成电路的环境试验方法和疲劳试验方法 |
EIAJ标准【Standard Electronic Industries Association of Japan(日本电子机械工业协会标准)】 |
SD-121：分立半导体器件的环境和疲劳性试验方法 |
IC-121：集成电路的环境及疲劳性试验方法 |
其他：NASA标准，CECC标准，防卫厅标准，汽车工业标准等 |